Lasertec Corporation (Lasertec Corp.) aktie

Lasertec Corporation beskæftiger sig med design, fremstilling og salg af inspektions- og måleudstyr i Japan og internationalt. Virksomheden tilbyder produkter relateret til halvledere, herunder aktinisk EUV-mønstermaskeinspektionssystem, EUV-maske blankinspektion og -review system, maskeinspektionssystem, maske blankinspektion og -review system, EUV pellicle inspektionssystem, EUV maske bagsideinspektion og -rengøringssystem og maskekantinspektionssystem; faseforskydning og transmissionmålesystem, faseforskydningsmålesystem; SiC-waferinspektion og -review system, GaN-waferinspektion og -review system, højfølsom underlagsdefektinspektion og -review system, multi-bølgelængde waferinspektionssystem, højfølsom waferkantinspektionssystem, waferkantdimensionmålesystem, via-dybdemålesystem, TSV-rygslibeprocessmålesystem og fuldt automatiseret wafermålesystem. Virksomheden leverer desuden inspektionssystemer til FPD-fotomasker, pellicle-inspektion og pellicle-monteringssystemer til CLIOS, samt FPD-maske blankinspektionssystemer; samt mikroskoper, såsom lasermikroskoper, elektro-kemisk reaktionsvisualiserende konfokalt system og in-situ observation ved ultrahøj temperatur konfokalt skanningslasermikroskop. Virksomheden var tidligere kendt som NJS Corporation og ændrede sit navn til Lasertec Corporation i 1986. Lasertec Corporation blev grundlagt i 1960 og har hovedsæde i Yokohama, Japan.