Lasertec Corporation (LASERTEC CORP) aktie

Lasertec Corporation ägnar sig åt design, tillverkning och försäljning av inspektions- och mätutrustning i Japan, Sydkorea, Taiwan, övrig Asien samt USA. Bolaget erbjuder produkter relaterade till halvledare, inklusive Actinic EUV patterned mask inspection system, EUV mask blanks inspection och review system, mask inspection system, mask blanks inspection och review system, EUV pellicle inspection system, EUV mask backside inspection och cleaning system samt mask edge inspection system; phase-shift och transmittance measurement system, phase-shift measurement system; SiC wafer inspection och review system, GaN wafer inspection och review system, high sensitivity under-layer defect inspection och review system, multi-wavelength wafer inspection system, high sensitivity wafer edge inspection system, wafer edge-dimension measurement system, via depth measurement system, TSV back grinding process measurement system och fully automated wafer measurement system. Bolaget tillhandahåller även FPD photomask inspection system, pellicle inspection och pellicle mounting system för CLIOS, samt FPD mask blanks inspection system; och mikroskop, såsom laser mikroskop, electro-chemical reaction visualizing confocal system och in-situ observation vid ultrahög temperatur confocal scanning laser microscope. Bolaget hette tidigare NJS Corporation och bytte namn till Lasertec Corporation år 1986. Lasertec Corporation grundades år 1960 och har sitt huvudkontor i Yokohama, Japan.